Physik der Grenz- und Oberflächen

Forschungsgebiete

- Halbleitergrenzflächen, inbesondere III-V/Si und Oxid/Si-Grenzflächen
- Molekulare Energiewandlung an Grenzflächen und Nanokontakten
- Fest-Flüssig-Grenzflächen
- Nichtlinear-optische Spektroskopie von Grenzflächen
- Oberflächenmikroskopie mit langsamen Elektronen

Ausstattung

- LEEM (low energy electron microscope) mit Energiefilter
- PEEM (photoemission electron microscope) mit Laseranregung und Energiefilter
- Auger-Nanosonde (NanoSAM)
- Rasterkraftmikroskop mit Tunneling AFM (TUNA)
- Rastertunnelmikroskop unter Umgebungsbedingungen (environmental STM, electrochemical STM)
- Ti:Saphir-Femtosekundenlasersystem
- Regenerativer Ti:Saphir-Laserverstärker mit optisch-parametrischem Verstärker
- Nachverstärktes Nd:YAG-Pikosekundenlasersystem mit optisch-parametrischem Verstärker

Leistungsangebot

- Chemische Oberflächenanalytik mit der Auger-Nanosonde (NanoSAM)
- Rasterelektronenmikroskopie im Ultrahochvakuum (UHV-REM)
- Auger-Elektronenspektroskopie (AES)
- Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Schlagworte

Oberflächen, Grenzflächen, nichtlinear-optische Spektroskopie von Grenzflächen, Erzeugung der zweiten Harmonischen (SHG), Summenfrequenzerzeugung (SFG), Schwingungsspektroskopie von Oberflächen, Elektronenmikroskopie von Oberflächen, LEEM, PEEM, 2-Photonen-Photoemissionsmikroskopie, Auger-Nanosonde, NanoSAM, XPS, AES

Areas of research

- semiconductor interfaces, notably III-V/Si and oxide/Si-interfaces
- molecular energy conversion at interfaces and nanocontacts
- solid-liquid interfaces
- nonlinear optical spectroscopy of interfaces
- surface microscopy using low energy electrons

Keywords

surfaces, interfaces, nonlinear optical spectroscopy of interfaces, second-harmonic generation (SHG), sum-frequency generation (SFG), surface vibration spectroscopy, environmental STM/electrochemical STM, electron microscopy of surfaces, LEEM, PEEM, 2-photon photoemission microscopy, Auger nanoprobe, NanoSAM

Kontakt

Ansprechpartner/-in

Prof. Dr. Winfried Daum
Telefon:
(05323) 72-2144
Dr. Gerhard Lilienkamp
Telefon:
(05323) 72-3615

Forschungseinrichtung

Technische Universität Clausthal
Fakultät für Natur- und Materialwissenschaften
Institut für Energieforschung und Physikalische Technologien
Physik der Grenz- und Oberflächen
Hausanschrift:
Leibnizstraße 4
38678 Clausthal-Zellerfeld
Telefon:
(05323) 72-3363
Telefax:
(05323) 72-3600
Stand: 20.11.2012